Sistema EDAX Orbis II Micro-XRF
El sistema de microfluorescencia de rayos X (micro-XRF) EDAX® Orbis™ II ofrece análisis elemental no destructivo de alto rendimiento con una flexibilidad y facilidad de uso inigualables. Diseñado para la excelencia en todo el espectro de aplicaciones de micro-XRF, el Orbis II permite a los usuarios analizar todo tipo de muestras, desde las partículas más pequeñas hasta muestras grandes y complejas, con rapidez y precisión.
Beneficios
- La tecnología de ventana de rayos X personalizada permite la detección de elementos luminosos.
- La óptica coaxial patentada de luz y rayos X se enfoca con precisión en regiones específicas, eliminando la interferencia de rayos X de las áreas adyacentes.
- Maximiza el rendimiento al recopilar espectros 2,5 veces más rápido y mapas espectrales 3 veces más rápido.
- Optimiza los flujos de trabajo con rutinas de ejecución automática programables para aumentar la productividad y garantizar resultados consistentes y de alta calidad.
El componente principal del Orbis II es su torreta orbital patentada, ahora mejorada con un posicionador de precisión que alinea perfectamente el eje óptico de rayos X con la vista de alta magnificacion de la muestra. Emparejado con tamaños de punto ajustables que van desde 2 mm hasta 30 μm, este avanzado sistema garantiza que los rayos X siempre se enfoquen exactamente donde los necesita, eliminando errores por desalineación del microscopio o variaciones en la altura de la muestra. Basado en la probada plataforma Orbis, el Orbis II ofrece el mismo rendimiento y fiabilidad, ahora con mayor precisión y control, para que pueda analizar con total confianza.
El Orbis II redefine la velocidad y la eficiencia en el análisis de micro-XRF.
Equipado con una fuente de rayos X de alta intensidad, electrónica mejorada y un detector de rayos X de mayor tamaño, proporciona más de 1 millón de cuentas por segundo de la muestra y procesa más de 450.000 cuentas por segundo, lo que permite la recopilación espectral a una velocidad 2,5 veces superior a la de la generación anterior.
El mapeo mejorado de la platina y el control de movimiento optimizado reducen el tiempo de movimiento de la platina entre 3 y 4 veces, lo que permite un escaneo más rápido y eficiente. Estos avances se traducen en datos de mayor calidad en menos tiempo, para que pueda analizar más muestras al día y mantener su laboratorio funcionando a la máxima productividad.
| Detector | Silicon drift detector |
|---|---|
| Sensor size | 30 mm2 70 mm2 |
| Window material | Silicon nitride Beryllium (optional silicon nitride) |
| Element detection range | C – Am Na – Am (C – Am w/optional window) |
| Max. x-ray spot size | 2 mm |
| Min. x-ray spot size | 300 μm monocapillary standard (30 μm polycapillary optional) |
| SDD energy resolution | <130 eV @ 10k cps; <145 eV @ 250k cps |
| Max. throughput | 250k cps 450k cps |
| Chamber size | 400 x 400 x 300 mm |
| Max. stage travel | 100 x 100 x 100 mm |
SIPROA
Software APEX para EDS
APEX™ EDS es el programa de software premier de EDAX para recopilar y analizar datos de espectroscopia de energía. dispersiva (EDS) y la caracterización composicional de materiales.
APEX garantiza resultados precisos y de alta calidad y una mayor productividad con su interfaz de usuario fácil de usar , visualización gráfica en tiempo real y análisis con modo de revisión simultánea.
Facilidad de uso
- Operación intuitiva para usuarios principiantes y expertos
- Adquisición y reporteo de datos con tan solo un clic del mouse
- Automatiza tareas rutinarias para un análisis rápido y sencillo
- Asegura de que todos tengan el nivel adecuado de acceso con acceso de sesión basados en perfiles, desde usuarios individualesa administradores
Personalización
- Esquema de color seleccionable para que coincida con la interfaz del microscopio electrónico de barrido (SEM) o Preferencias del usuario
- Despliegue de opciones de configuración para mostrar datos según las preferencias del usuario.
- Cambio de tamaño y organización de las ventanas de datos según preferencia de usuario
- Revision de datos y adquisición simultanea
- Mejora de eficiencia de su experimento adquiriendo simultáneamente un espectro,
escaneo de línea o mapas mientras evalúa datos y genera reportes.
Resultados en tiempo real
- Identifica y muestra elementos inmediatamente usando Element ID
- Edicion dinámica de elementos para análisis más preciso y eficiente
- Comprenda fácilmente la composición de su muestra utilizando la cuantificación en vivo y resultados gráficos
EDAX Spectrum Match
EDAX Spectrum Match es un poderoso programa de software que permite una búsqueda a través de una biblioteca de espectros personalizada para identificar y coincidir automáticamente un espectro con espectros similares.
La identificacion de un material desconocido se simplifica enormemente cuando se compara con un grupo de candidatos potenciales, reduciendo la complejidad de encontrar discrepancias y similitudes entre espectros.
El emparejamiento de un espectro desconocido con los posibles candidatos de la biblioteca se basa en bondad Chicuadrado de aproximación estadística correspondiente
Compararando directamente o concentraciones o líneas espectrales
La sensibilidad de afinidad es ajustable, lo que proporciona un control total sobre los resultados.
del pareo para el grado de confianza deseado.
Los espectros potencial coincidentes se superponen al espectro original.
El porcentaje de afinidad mide cuán similares o diferentes son los espectros y representa visualmente las diferencias.
La opción de librería EDAX Smart Materials and Minerals proporciona 150 entradas de elementos aleaciones estándar metálicas estándar y minerales comunes. Los 90 espectros de acero que se incluyen constan de:
• Aceros inoxidables
• Aceros aleados, aleaciones a base de Ni y Cu.
• Aceros herramientas
• Aceros al carbono
Además, la biblioteca contiene más de 50 silicatos y otros materiales geológicos estándar.
para identificar componentes ambientales y mineralógicos.
Usando la biblioteca, las tres coincidencias principales para la muestra desconocida se muestran con valores numéricos del % de bondad de afinidad a lo largo de una superposición espectral que confirma los detalles de picos espectrales coinciden.
Spectrum Match es la forma más rápida de lograr soluciones de caracterización concluyente de los materiales
aun con traslape de picos que causan interferencia, ya que los números de cuantificación
son menos sensibles a los cambios en el voltaje de aceleración, la geometría y características.
del detector.
SIPROA
EDAX TEAM 3D IQ
TEAM 3D IQ utiliza un software de visualización 3D para ensamblar la serie de secciones seriales 2D
en un único conjunto de datos y utiliza TEAM Quant Engine para cuantificar los datos, lo que permite
un verdadero microanálisis de características individuales dentro de la estructura 3D. Ofreciendo ambos
resultados de imágenes y cuantificación, TEAM 3D IQ le brindará la información más completa
Interpretación visual y analítica de sus datos 3D EDS disponibles.
GATAN
